通常3~5週間以内
ASTM E2445-14、ISO 16371-1、EN 14784-1準拠
検査成績書、適合証明書(ISO/IEC 17050-1)とケースが付属
ASTM E2445-14、ISO 16371-1、EN 14784-1で定期的な実施が規定されているCRスキャナーシステムの試験に必須
基本空間分解能、不鮮鋭度、コントラストなど、CRシステムの全関連パラメータをテスト可能
Part | IQI, Gauge | Test, Check |
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A | T-Target – brass | Laser beam jitter, MTF check, Blooming (Flare) |
B | Duplex wire type IQI | Basic spatial resolution, unsharpness |
C | BAM snail | Central beam alignment |
D | Converging line pair IQI | Line pair resolution |
E | EL, EC, ER Measuring points | Shading correction |
F | Cassette positioning locator | Position of cassette (image plate) |
G | Homogeneous AL strip | Scanner slipping, shading |
H | Lucite plate | Carrier plate |
I | cm/inch Ruler | Linearity check |
J | Contrast sensitivity gauge | Contrast sensitivity check |
適合規格 | ASTM E2445-14、ISO 16371-1、EN 14784-1 |
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寸法 | 350 × 430 × 19mm(14" × 17" × 0.75") |